專業型分析天平
型號:XS205DU
儀器資料:
XS分析天平
采用高精度、高分辨率后置式傳感器,獲得準確稱量結果
全自動校準技術(FACT)-溫度漂移觸發的天平自動內校,內置兩組砝碼實現線性誤差校準,確保稱量結果的準確性
變量程設計(DeltaRange)和雙量程(DualRange)設計,滿足客戶對不同樣品的稱量需求
革命性的網格稱量盤(SmartGrid)、懸浮在稱量室中的后掛稱量設計,獲得快速、穩定的稱量結果
易巧稱量組件(ErgoClips),方便客戶使用不同去皮容器進行稱量
觸摸屏技術(Touchscreen),方便天平稱量菜單和參數設置
可移動的顯示控制終端,方便天平使用
*可拆卸的防風罩設計,實現天平的快速清潔
內置RS232通訊接口,方便連接打印機、電腦等外圍設備
優化天平適應性的稱量參數設置,滿足不同稱量環境要求
具有簡單稱量、統計稱量、公式稱量、密度測定等內置應用程序
e-LoaderII軟件,實現更便捷的天平軟件更新
技術規格
量程雙量程
可讀性0.01/0.1mg
zui大稱量值81/220g
zui大稱量值重復性(s)0.1mg
10g重復性(s)0.02mg
線性±0.2mg
1/2zui大稱量1)四角*.3mg
靈敏度漂移0.0004%
靈敏度溫度漂移2)0.00015%/℃
靈敏度穩定性3)0.0002%/a
典型稱量時間4)6s
接口更新速率23/s
防風罩有效高度(mm)235
秤盤尺寸(mm)78×73
天平外形尺寸(W×D×H)(mm)263×453×322
1)按照OIML76標準2)溫度范圍10…30℃3)靈敏度漂洗/年(天平*使用后),激活FACT全自動校準技術4)包括樣品處理時間設置